使用 4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀)加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領先電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現無與倫比的測量和分析能力。此外,嵌入式測量專業知識提供無與倫比的測試指導,并讓您對最終結果充滿信息。
特點
用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件
立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數
使用吉時利最新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業領先的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
同類產品中首款能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表
1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz
測量電容、電導和導納
使用 4200A-CVIV 多路開關最多可測量四個通道


4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
“點擊”測試定序
“手動”探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實現調試
吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。

| 產品技術資料 | 型號 | 描述 | 價格 |
|---|---|---|---|
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA:一個預放大器 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA:一個預放大器 4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4211-SMU:兩個用于高容量設置的高功率 SMU 4200-PA:兩個預放大器 4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用尖端硅 CMOS 技術進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
| 索取報價 |